GB/T 7167-2008锗γ射线探测器测试方法

Test procedures for germanium gamma-ray detectors

GBT7167-2008, GB7167-2008

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GB/T 7167-2008

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GB/T 7167-2008

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标准号GB/T 7167-2008

别名GBT7167-2008GB7167-2008

发布2008年

ICS

27.120

总页数13页

采用标准

IEC 60973:1989

NEQ

发布单位国家市场监督管理总局

当前最新

GB/T 7167-2008

引用标准

JJG 578-1994

JJG 752-1991

被代替标准

GB/T 7167-1996

本体

半导体探测器

本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。

本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗X射线探测器和锗（锂）探测器的性能测试。

术语 高纯锗

High-Purity Germanium (HPGe)平面型半导体探测器

Planar Semiconductor Detector

GB/T 7167-2008 中提到的仪器设备

高纯锗γ射线探测器测试系统 如图1所示连接方式包括探测器、前放、主放、ADC与MCA系统等部分。

专题

x射线平板探测器

平板探测器残影测试方法

γ射线探测方法

半高宽和

射线 探测器

射线探测器

GB/T 7167-2008相似标准

HD 303-1975 锗γ射线探测器试验规程

JIS Z 4520:2007 锗γ射线探测器的试验规程

IEC 60973:1989 锗γ射线探测器的试验程序

DIN IEC 973:1993 德国锗γ射线探测器试验程序

JIS Z 4520:1979 锗γ射线检测器试验方法

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